めっきの測定方法には、破壊測定、非破壊測定にて測定が可能ですが、
弊社で行なっている方法は、蛍光X線による非破壊測定になります。

蛍光X線による測定の原理は・・・

蛍光X線式膜厚計を用いて、めっきした製品にX線を照射し、めっき表面、素材から発生するX線
の量を測定して、めっき厚さを測定する方法です。
金属素地や金属皮膜を破壊せず、単層めっきから多層めっきまで短時間で測定が可能です。

測定装置

蛍光X線式膜厚計には、波長分散型とエネルギー分散型がありますが、エネルギー分散型が操作が
簡単なため用いられています。
エネルギー分散型の原理は下記の図の通りです。

測定する上での注意点

測定する際に、測定精度に影響を与える因子として次のことに注意する必要があります。

1.めっきの厚さ
2.素地の材質・下地めっきの厚さ
3.資料の表面粗さ
4.資料の湾曲面

測定に対する制約

素地とめっきの組み合わせ、素地と多層めっきの組み合わせにおいて、測定できない組み合わせ
もあります。
素地・めっきなど重複する元素がある組み合わせは、厚さ測定が不可能な場合があります。

例えば、黄銅素地上の銅めっき、亜鉛めっき、ステンレス素地上のニッケルめっき、クロムめっ
き、洋白上のニッケルめっき、亜鉛めっき、銅めっき、銅素地上の黄銅めっきなどは測定できな
いのです。