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SEM(せむ)
SEMとは、Scanning Electron Microscopeの略のことで、走査電子顕微鏡を意味します。SEMであれば、電子線を照射して、試料から放出される二次電子、反射電子、透過電子を検出することで試料を把握するため、ナノ構造も十分把握することができます(その最大倍率は50万倍です)。
SEMとは、Scanning Electron Microscopeの略のことで、走査電子顕微鏡を意味します。SEMであれば、電子線を照射して、試料から放出される二次電子、反射電子、透過電子を検出することで試料を把握するため、ナノ構造も十分把握することができます(その最大倍率は50万倍です)。
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