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SEM（せむ）
SEMとは、Scanning Electron Microscopeの略のことで、走査電子顕微鏡を意味します。SEMであれば、電子線を照射して、試料から放出される二次電子、反射電子、透過電子を検出することで試料を把握するため、ナノ構造も十分把握することができます（その最大倍率は50万倍です）。
この記事の著者は
株式会社 小池テクノ 代表取締役社長
大橋 一友
毒物劇物取扱責任者
水質関係第二種公害防止管理者
特定化学物質及び四アルキル鉛等作業主任者
化学物質管理者
特別管理産業廃棄物管理責任者
